{"id":2947,"date":"2026-02-05T01:35:00","date_gmt":"2026-02-05T01:35:00","guid":{"rendered":"https:\/\/www.materialstests.com\/products\/nzd-01-mit-folding-endurance-tester\/"},"modified":"2026-02-05T01:35:00","modified_gmt":"2026-02-05T01:35:00","slug":"nzd-01-mit-folding-endurance-tester","status":"publish","type":"products","link":"https:\/\/www.materialstests.com\/lt\/products\/nzd-01-mit-folding-endurance-tester.html","title":{"rendered":"NZD-01 MIT sulankstomas i\u0161tverm\u0117s testeris"},"content":{"rendered":"

1. NZD-01 MIT sulankstomo i\u0161tverm\u0117s testerio pristatymas<\/h2>\n

NZD-01 MIT sulankstomas i\u0161tverm\u0117s testeris<\/strong>\u00a0skirtas ma\u017eesnio nei 1,25 mm storio lak\u0161tini\u0173 med\u017eiag\u0173, pavyzd\u017eiui, popieriaus, kartono ir tabako lak\u0161t\u0173, atsparumui lankstymui \u012fvertinti.<\/p>\n

Bandymo metu bandiniai dvigubai sulankstomi standartin\u0117mis \u012ftempimo s\u0105lygomis ir matuojamas dvigub\u0173 sulankstym\u0173 skai\u010diaus logaritmas (baz\u0117 10) bandinio l\u016b\u017eio vietoje. \u0160i logaritmin\u0117 vert\u0117 vadinama lankstymo i\u0161tverme, kuri yra labai svarbus rodiklis, leid\u017eiantis \u012fvertinti med\u017eiagos atsparum\u0105 pa\u017eeidimams lenkimo ar lankstymo metu. Paprastai didesn\u0117s lankstymo patvarumo vert\u0117s rodo didesn\u012f ilgaam\u017ei\u0161kum\u0105 ir atsparum\u0105 lenkimo \u012ftempiams.<\/p>\n

Svetain\u0117\u00a0MIT sulankstomas i\u0161tverm\u0117s testeris<\/strong>\u00a0naudojamas \u012fvairiose pramon\u0117s \u0161akose, \u012fskaitant popieriaus gamyb\u0105, kartono gamyb\u0105 ir tabako pramon\u0119. Atlikdami \u0161\u012f bandym\u0105, med\u017eiag\u0173 mokslo ekspertai gali \u012fvertinti, kaip med\u017eiagos gali atlaikyti lankstymo ir lenkimo \u012ftempius, su kuriais susiduriama realiomis s\u0105lygomis. \u0160i informacija padeda gamintojams ir mokslininkams pasirinkti arba tobulinti med\u017eiagas pagal j\u0173 eksploatacines savybes.<\/p>\n

 <\/p>\n

2. Technin\u0117s savyb\u0117s<\/h2>\n

1. Reguliuojamas lankstymo greitis nuo 20 iki 200 dvigub\u0173 lankstym\u0173 per minut\u0119<\/p>\n

2. Galimi \u012fvair\u016bs \u012ftempimo svoriai<\/p>\n

3. Spalvoto jutiklinio ekrano valdymas<\/p>\n

4. \u012erengtos \u012fvairios lankstymo galvut\u0117s, tinkamos \u012fvairiems m\u0117giniams<\/p>\n

5. \u012ediegtas mikrospausdintuvas<\/p>\n

\"NZD-01<\/p>\n

 <\/p>\n

3. Bandymo principas<\/h2>\n

I\u0161lyginkite prietais\u0105. Pasukite svyruojan\u010di\u0105 sulankstom\u0105j\u0105 galvut\u0119 taip, kad lizdas b\u016bt\u0173 vertikalus. Ant st\u016bmoklio vir\u0161aus u\u017ed\u0117kite svor\u012f, atitinkant\u012f norim\u0105 bandinio \u012ftempim\u0105 (paprastai 9,81 N), stumtel\u0117kite st\u016bmokl\u012f \u012f \u0161on\u0105, kad pa\u0161alintum\u0117te trint\u012f, ir patikrinkite bei nustatykite apkrovos indikatori\u0173. U\u017efiksuokite st\u016bmokl\u012f pad\u0117tyje ir, neliesdami sulenkiamos juostos dalies, tvirtai ir lygiai u\u017espauskite bandin\u012f \u017enypl\u0117se, kad bandinio pavir\u0161ius b\u016bt\u0173 visi\u0161kai vienoje plok\u0161tumoje, t. y. plok\u0161\u010dias, o \u0161onai b\u016bt\u0173 laisvi nuo svyruojan\u010di\u0173 \u017enypli\u0173 tvirtinimo plok\u0161t\u0117s. Atsukite st\u016bmoklio u\u017erakt\u0105 ir i\u0161imkite svor\u012f, taip juost\u0105 \u012ftempdami iki nurodyto \u012ftempimo. Nuimdami svor\u012f taip pat steb\u0117kite, ar apkrovos indikatorius n\u0117ra pasislink\u0119s. Jei atsiranda judesi\u0173, i\u0161 naujo sureguliuokite \u012ftempim\u0105 taip, kaip nurodyta, kai svoris yra ant st\u016bmoklio. Prad\u0117kite lankstym\u0105 ir t\u0119skite, kol bandomasis ruo\u0161inys nutr\u016bks, tada skaitiklis automati\u0161kai sustos. U\u017era\u0161ykite dvigub\u0173 sulenkim\u0173, kuri\u0173 reikia bandiniui sulau\u017eyti, skai\u010di\u0173. Skaitiklio rodmenis gr\u0105\u017einkite \u012f nulin\u0119 pad\u0117t\u012f.<\/p>\n

 <\/p>\n

4. Specifikacijos<\/h2>\n
\n\n\n\n<\/colgroup>\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
Matavimo diapazonas<\/td>\n\u00a01\uff5e99999 kart\u0173<\/td>\n<\/tr>\n
Lankstymo i\u0161tverm\u0117 (logaritmas)<\/td>\n\u00a00\uff5e4.99<\/td>\n<\/tr>\n
Sulankstymo kampas<\/td>\n\uff08135 \u00b1 2\uff09\u00b0<\/td>\n<\/tr>\n
Sulankstymo greitis<\/td>\n\uff08175\u00b110\uff09laikas\/min<\/td>\n<\/tr>\n
M\u0117ginio plotis<\/td>\n\uff0815 \u00b1 0,1\uff09Mm<\/td>\n<\/tr>\n
\u012etempimo j\u0117ga<\/td>\n\uff084.91\uff5e14.72\uff09N<\/td>\n<\/tr>\n
Atlenkimo atidarymo atstumas<\/td>\n0.25mm\/0.50mm\/0.75mm\/1.00mm\/1.25mm\uff08Choose One\uff09<\/td>\n<\/tr>\n
Sulenkimo lanko spindulys<\/td>\n\uff080,38\u00b10,02\uff09Mm<\/td>\n<\/tr>\n
Ekranas<\/td>\n5 coli\u0173 jutiklinis ekranas<\/td>\n<\/tr>\n
Spausdintuvas<\/td>\nModulinis integruotas terminis spausdintuvas<\/td>\n<\/tr>\n
Aplinka<\/td>\nAplinka\uff0820 \u00b1 10\uff09\u00b0C\uff1bRh \uff1c 85\uff05<\/td>\n<\/tr>\n
Maitinimas<\/td>\nAC220v, 50 Hz<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div>\n

Specialaus m\u0117gini\u0173 \u0117miklio techniniai parametrai<\/strong><\/h4>\n
\n\n\n\n<\/colgroup>\n\n\n\n\n\n
Imties dydis<\/td>\n150 mm15 mm<\/td>\n<\/tr>\n
Dviej\u0173 ilg\u0173j\u0173 kra\u0161tini\u0173 lygiagretumas<\/td>\n\u22640,015 mm<\/td>\n<\/tr>\n
M\u0117gini\u0173 \u0117mimo storis<\/td>\n(0,05~1,2) mm<\/td>\n<\/tr>\n
Matmenys<\/td>\nMa\u017edaug 580220*620 mm<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div>\n

5. Standartai<\/h2>\n

ISO 5626\uff0cTAPPI T511\uff0cGB\/T 457\uff0cQB\/T 1049<\/p>\n

 <\/p>\n

6. Konfig\u016bracija<\/h2>\n

a) Standartin\u0117 konfig\u016bracija:\u00a0NZD-01 MIT sulankstomas i\u0161tverm\u0117s testeris<\/strong>, popieriaus ritin\u0117lis, vadovas, kalibravimo sertifikatas, maitinimo laidas.<\/p>\n

b) Neprivaloma konfig\u016bracija: Nestandartin\u0117s \u017eandikauliai,<\/p>\n

\"NZD-01<\/p>\n

 <\/p>\n

7. DUK<\/h2>\n

1. Koks yra pagrindinis tikslas\u00a0MIT lankstymo i\u0161tverm\u0117s bandymas<\/strong>, ir kaip vertinamas med\u017eiag\u0173 na\u0161umas?<\/p>\n

Svetain\u0117\u00a0MIT lankstymo i\u0161tverm\u0117s bandymas<\/strong>\u00a0siekiama \u012fvertinti med\u017eiagos ilgaam\u017ei\u0161kum\u0105 daugkartinio lankstymo metu. Jis vertinamas matuojant dvigub\u0173 sulenkim\u0173 skai\u010diaus logaritm\u0105 (baz\u0117 10) bandinio l\u016b\u017eio vietoje, esant standartin\u0117ms \u012ftempimo s\u0105lygoms.<\/p>\n

 <\/p>\n

2. Kaip\u00a0MIT sulankstomas i\u0161tverm\u0117s testeris<\/strong>\u00a0valdyti lankstymo parametrus, pavyzd\u017eiui, greit\u012f ir kamp\u0105?<\/p>\n

Testeriu galima reguliuoti lankstymo greit\u012f nuo 20 iki 200 dvigub\u0173 lankstym\u0173 per minut\u0119 ir i\u0161laikyti nustatyt\u0105 135 laipsni\u0173 lankstymo kamp\u0105. Toks valdymas u\u017etikrina bandym\u0173 atkuriamum\u0105 ir standartizavim\u0105.<\/p>\n

 <\/p>\n

3. Koki\u0105 reik\u0161m\u0119 turi spyruokl\u0117s \u012ftempimas atliekant MIT lankstymo i\u0161tverm\u0117s test\u0105 ir kaip jis reguliuojamas?<\/p>\n

Spyruokl\u0117s \u012ftempimas, paprastai svyruojantis nuo 4,91 N iki 14,72 N, yra labai svarbus norint u\u017etikrinti tolyg\u0173 bandinio \u012ftempim\u0105. Ji reguliuojama naudojant norim\u0105 \u012ftempimo lyg\u012f atitinkan\u010dius svarmenis.<\/p>\n

 <\/p>\n

4. Ar MIT sulankstomasis atsparumo testeris gali b\u016bti pritaikytas \u012fvairioms med\u017eiagoms ir kaip pasiekiamas toks universalumas?<\/p>\n

Taip, testeris yra universalus ir gali b\u016bti naudojamas su \u012fvairiomis med\u017eiagomis. \u0160is pritaikomumas pasiekiamas d\u0117l galimyb\u0117s naudoti daugyb\u0119 lankstymo galvu\u010di\u0173 ir svori\u0173, tod\u0117l galima i\u0161bandyti \u012fvairias med\u017eiagas ir j\u0173 stor\u012f.<\/p>\n

 <\/p>\n

Jei turite pirkimo poreiki\u0173, pra\u0161ome\u00a0susisiekite su mumis<\/a>\u00a0ir\u00a0Cell Instruments<\/a>\u00a0suteiks jums patenkinamus produktus.<\/p>\n

\"NZD-01<\/a><\/p>\n

Jei norite gauti daugiau informacijos apie \u0161\u012f gamin\u012f, nedvejodami susisiekite su mumis. Rekomenduojame jums kitus populiarius produktus:\u00a0Audini\u0173 storio testeris<\/a>,\u00a0Popieriaus ir kartono storio testeris<\/a>,\u00a0Konteineri\u0173 testeris<\/a>,\u00a0Laikymo galios testeris<\/a>,\u00a0Popieriaus lentos testeris Didmenininkas<\/a>,\u00a0Audini\u0173 storio testerio gamintojas<\/a>,\u00a0Popieriaus ir kartono storio testeris - didmenininkas<\/a><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

1. Introduction of NZD-01 MIT Folding Endurance Tester NZD-01 MIT Folding Endurance Tester\u00a0is designed for assessing the fold endurance performance of sheet materials such as paper, cardboard, and tobacco sheets, with a thickness of less than 1.25 mm. During the test, specimens undergo double folding under standard tension conditions, and the logarithm (base 10) of […]<\/p>","protected":false},"featured_media":0,"parent":0,"template":"","meta":{"_acf_changed":false},"products-categories":[1468],"productstags":[],"class_list":["post-2947","products","type-products","status-publish","hentry","products-categories-paper-board-tester"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.materialstests.com\/lt\/wp-json\/wp\/v2\/products\/2947","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.materialstests.com\/lt\/wp-json\/wp\/v2\/products"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.materialstests.com\/lt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/products"}],"version-history":[{"count":0,"href":"https:\/\/www.materialstests.com\/lt\/wp-json\/wp\/v2\/products\/2947\/revisions"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.materialstests.com\/lt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=2947"}],"wp:term":[{"taxonomy":"products-categories","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.materialstests.com\/lt\/wp-json\/wp\/v2\/products-categories?post=2947"},{"taxonomy":"productstags","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.materialstests.com\/lt\/wp-json\/wp\/v2\/productstags?post=2947"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}