{"id":2841,"date":"2026-02-05T01:34:54","date_gmt":"2026-02-05T01:34:54","guid":{"rendered":"https:\/\/www.materialstests.com\/products\/fsr-01-shrink-force-and-ratio-tester\/"},"modified":"2026-02-05T01:34:54","modified_gmt":"2026-02-05T01:34:54","slug":"fsr-01-shrink-force-and-ratio-tester","status":"publish","type":"products","link":"https:\/\/www.materialstests.com\/et\/products\/fsr-01-shrink-force-and-ratio-tester.html","title":{"rendered":"FSR-01 Kahanemisj\u00f5u ja suhte tester"},"content":{"rendered":"
\n

1.FSR-01 tutvustus\u00a0Shrink Force<\/a>\u00a0ja Ratio\u00a0Tester|\u3001Plastikakatsetused<\/a>\u00a0\u00a0<\/strong><\/h2>\n<\/div>\n

FSR-01 Shrink Force ja\u00a0Suhtarvu testija<\/a>\u00a0on m\u00f5eldud nii kokkut\u00f5mbuvate kilede kokkut\u00f5mbamisj\u00f5udude kui ka kokkut\u00f5mbesuhte m\u00f5\u00f5tmiseks. Need kiled luuakse tavaliselt ekstrusiooni ja venitamise (kuum t\u00f5mbamise) teel nende tootmisprotsessi k\u00e4igus, s\u00e4ilitades selle venitatud oleku ka p\u00e4rast jahutamist.<\/p>\n

Kahanemine m\u00e4\u00e4ratakse kindlaks, kui kile kastetakse \u00f5livanni valitud temperatuuril. Kahanemine masina- ja p\u00f5iksuunas m\u00e4\u00e4ratakse aja funktsioonina.
\nKahanemispinge m\u00e4\u00e4ramine p\u00f5hineb\u00a0DIN 53369<\/strong>. Katseproov \u00fchendatakse koormusanduriga, pannakse l\u00fchiajaliselt kuuma ahju ja jahutatakse seej\u00e4rel toatemperatuurini. Materjali kokkut\u00f5mbumise ajal tekkivad j\u00f5ud registreeritakse.
\nKitsenduskile kasutatakse mitmesuguste pakendite v\u00e4lispakendina. Kui kilele kuumutatakse, t\u00f5mbub see kokku ja m\u00e4hib tihedalt \u00fcmber kaetud eseme. Kile kokkut\u00f5mbumine p\u00f5hineb kile tootmisprotsessi k\u00e4igus tekkinud orientatsioonipingete l\u00f5dvenemisel. Pingete l\u00f5dvenemine v\u00f5imaldab pakendi head sulgemist.<\/p>\n

 <\/p>\n

2.Miks on vaja kahanemisj\u00f5udu ja -suhtarvu?\u00a0Tester|\u3001Plastics Testing factory|\u3001 Plastics Testing factory<\/a>?<\/strong><\/h2>\n

Kui termokahanev kile kuumutatakse uuesti temperatuurile, mille juures esialgne pinge tekitati ja seej\u00e4rel fikseeriti selle tootmise ajal, vabaneb see pinge, mis p\u00f5hjustab kile kokkut\u00f5mbumise v\u00f5i \u201ctagasikahanemise\u201d. S\u00f5ltuvalt rakendatud konkreetsest valmistamist\u00f6\u00f6tlusest v\u00f5ib kile liigitada kas kahesuunaliselt orienteeritud (kahes suunas venitatud) v\u00f5i \u00fchesuunaliselt orienteeritud (\u00fches suunas venitatud).<\/p>\n

\"FSR-01<\/p>\n

3.Tehnilised omadused FSR-01 Shrink Force ja Ratio\u00a0Tester|\u3001Plastics Testing export<\/a><\/strong><\/h2>\n

1. PLC-juhtimine ja HMI puuteekraan: t\u00f6\u00f6stusliku taseme stabiilsuse tagamine.<\/p>\n

2. H\u00e4sti isoleeritud \u00f5huahi: \u00f5huahi on suurep\u00e4raselt isoleeritud ja v\u00f5imeline automaatselt alla laskma ja t\u00f5stma, suurendades katsetamise t\u00e4psust.<\/p>\n

3. Kontaktivaba kokkut\u00f5mbesuhte m\u00f5\u00f5tmine: toimub kontaktivaba meetodi abil, mis parandab t\u00e4psust ja usaldusv\u00e4\u00e4rsust.<\/p>\n

4. Reaalajas kuvamine: sealhulgas kahanemisj\u00f5ud, kokkut\u00f5mbamisj\u00f5ud ja kahanemissuhe, mis v\u00f5imaldab kohest anal\u00fc\u00fcsi ja j\u00e4relevalvet.<\/p>\n

5. H\u00e4iringutegurite k\u00f5rvaldamine: Ebaregulaarsed h\u00e4irivad tegurid, nagu h\u00f5\u00f5rdumine ja jahe \u00f5hk, on t\u00f5husalt k\u00f5rvaldatud, tagades tulemuste t\u00e4psuse.<\/p>\n

6. Stabiilne k\u00fcttes\u00fcsteem: K\u00fcttes\u00fcsteem on stabiilne ja h\u00e4sti tasakaalustatud, s\u00e4ilitades j\u00e4rjepidevad ja kontrollitud katsetingimused.<\/p>\n

7. Lihtne proovi laadimine: Proovide laadimine on tehtud lihtsaks, mis lihtsustab testimisprotsessi ja v\u00e4hendab seadistamisaega.<\/p>\n

8. K\u00f5rgresolutsiooniga andurid: S\u00fcsteem on varustatud suure eraldusv\u00f5imega j\u00f5uanduritega ja termomeetritega, mis tagavad t\u00e4psed m\u00f5\u00f5tmised.<\/p>\n

9. \u00dchendatavus ja tarkvara: (valikuline) See sisaldab RS232-porti andmete \u00fchendamiseks ja pakub lisavarustusena professionaalset tarkvara t\u00e4iustatud andmeanal\u00fc\u00fcsi ja aruandlusv\u00f5imaluste jaoks.<\/p>\n

\"FSR-01<\/p>\n

4.Testimise p\u00f5him\u00f5te \u00a0<\/strong><\/h2>\n

1. H\u00e4sti isoleeritud \u00f5huahju kuumutatakse seatud temperatuurini. Kaks n\u00e4idist asetatakse eraldi kahele katsestendile, et teha kahanemiskiiruse ja kahanemis-\/v\u00e4henemisj\u00f5u katsed.<\/p>\n

2. Temperatuuriandur asub m\u00f5\u00f5tepiirkonnas, et anda tulemus v\u00f5rdlustemperatuurina. \u00d5huahi s\u00f5idab automaatselt alla, et katta prooviala. M\u00f5\u00f5detakse j\u00f5udu ja kahanemiskiirust ning kahanemistemperatuur saavutatakse, kui on saavutatud maksimaalne kahanemisj\u00f5ud.<\/p>\n

3. Kui see j\u00f5ud on v\u00e4henenud umbes 15%~30% v\u00f5rra, t\u00f5stetakse \u00f5huahi \u00fcles ja registreeritakse aeg.<\/p>\n

4. Kahanemissuhte hindamine toimub keskmisel ajal.<\/p>\n

\"FSR-01<\/a><\/p>\n

5.Spetsifikatsioonid<\/strong><\/h2>\n
\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n\n
J\u00f5uvahemik<\/td>\n5 N (v\u00f5i vastavalt vajadusele)<\/td>\n<\/tr>\n
T\u00e4psus<\/td>\n\u00b10,5%<\/td>\n<\/tr>\n
Resolutsioon<\/td>\n0.001N<\/td>\n<\/tr>\n
V\u00e4ljasurve vahemik<\/td>\n0,1 ~ 95 mm<\/td>\n<\/tr>\n
T\u00e4psus<\/td>\n\u00b10,1 mm<\/td>\n<\/tr>\n
Temperatuurivahemik<\/td>\nKeskkond ~ 210\u00b0C<\/td>\n<\/tr>\n
T\u00e4psus<\/td>\n\u00b10.5\u00b0C<\/td>\n<\/tr>\n
Isendite arv<\/td>\n2<\/td>\n<\/tr>\n
Valimi suurus<\/td>\n110*15 mm, L*S<\/td>\n<\/tr>\n
Toiteallikas<\/td>\n220V 50Hz<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>\n<\/div>\n

 <\/p>\n

6.Standardid:<\/strong><\/h2>\n

ISO 14616, DIN 53369, GB\/T 34848<\/p>\n